測(cè)試過(guò)程中常見(jiàn)問(wèn)題一：

1.      斷路：

原因：A.治具  B.線材  C.儀器

2.      導(dǎo)通不良：

原因：

A.     治具接觸電阻大

B.     治具與線材的接觸電阻

C.     儀器內(nèi)阻(歸零解決)

3.      絕緣不良：

原因：

A.     治具較髒，濕度大

B.     線材材料與制作工藝問(wèn)題

C.     儀器Relay板較髒，可作空測(cè)或清潔工作

六、       CT-8687不良原因分析

1.      導(dǎo)通不良：                  X COND NET001(A01)*B01 HILIMT

                               X COND NET001(A01)*3.5Ω  

2.      開(kāi)路，短路：               OPEN A01：B01

                               SHORT A01→A04

3.      電容不良：                   X CIN C33→C34(1.00N)HILIMIT

                               X CIN C33→C34(1.00N)2.00μF

4.      電阻不良：                   X R1 A01→A02(1.0Ω)HILIMIT

                               X R1 A01→A02(1.0Ω)10.5Ω

5.      二極管不良：               D0.8 C49→C50(1.80V)7.5V

                               D1.7 C49→C50(1.70V)2.9V

6.      絕緣不良：                   X INSUL(MOED3)=ARCING

                               X INSUL NET003(A09)=1.9MΩ

7.      瞬間短斷路不良：       OPEN A01：A02(INTERM)

                               SHORT C15→C17(INTERM)

8.      誤配：                           M．W．B36*B38

注：此項(xiàng)不可分辯誤配端點(diǎn)，即此顯示不表示在B36、B38點(diǎn)誤配。