當(dāng)前位置： 線材測(cè)試機(jī)本身的是具有一定電阻的，轉(zhuǎn)接治具也存在著一些電阻。所以在客戶測(cè)試線材的時(shí)候就會(huì)發(fā)現(xiàn)電阻很大。這種情況下。我們必須在做好治具后。做一個(gè)動(dòng)作。治具歸零。第一步將A端的點(diǎn)位全部短路。治具歸零。再將B端點(diǎn)位全部短路，治具歸零。再做測(cè)試。
線材的導(dǎo)通和電阻有很大的關(guān)系，但是很多人都不知道影響線材電阻的因素，應(yīng)用線材測(cè)試機(jī)可以很方便的測(cè)試出線材的電阻是多大，大大的方便了工廠測(cè)驗(yàn)相干線材。
電氣設(shè)備上的絕緣電阻是指電氣絕緣材料上所施加的直流電壓U和通過(guò)它總的電導(dǎo)電流的比值.R=U/I。
溫度對(duì)絕緣電阻的影響：溫度上升許多絕緣材料的絕緣電阻都會(huì)下降，因?yàn)闇囟壬呤菇^緣材料原子.分子的運(yùn)動(dòng)加劇，原先的分子結(jié)構(gòu)變得松懈，帶電的離子在電場(chǎng)的作用下產(chǎn)生移動(dòng)而傳遞電子，于是絕緣材料絕緣能力下降。
線材測(cè)試機(jī)的測(cè)試時(shí)間對(duì)絕緣電阻測(cè)試的影響：反復(fù)測(cè)量時(shí)因?yàn)闅堄嗟碾姾傻淖饔么嬖冢狗磸?fù)測(cè)量所得到的充電電流和接收電流比前一次小造成絕緣電阻假增景象。因此每一次絕緣電阻測(cè)試后應(yīng)將被測(cè)品充分放電，使放電時(shí)間大于充電時(shí)間，以利于殘余電荷的放盡。
我司測(cè)試導(dǎo)通電阻精度最高的測(cè)試機(jī)為L(zhǎng)T-6810系列
LT-6810系列精密線材綜合測(cè)試儀
v 系統(tǒng)提供先進(jìn)的外四線量測(cè)法，導(dǎo)通電阻最小可測(cè)1mΩ
v 可作線材單邊、標(biāo)準(zhǔn)、多段和點(diǎn)測(cè)功能測(cè)試
v 導(dǎo)通電阻可單獨(dú)分組設(shè)定，單邊可點(diǎn)測(cè)導(dǎo)通電阻
v 單邊靈敏度可對(duì)單根線分別設(shè)定，可測(cè)中間斷線
v 電容最大可測(cè)1000μF，可測(cè)電容量及電容正負(fù)極
v 短路、開路不良分邊準(zhǔn)確無(wú)誤
v 系統(tǒng)整體測(cè)試速度較傳統(tǒng)同類產(chǎn)品提升一倍
v 提供USB及RS232接口,并可與PC聯(lián)機(jī)操作
v 絕緣不受潮濕空氣影響
v 系統(tǒng)提供統(tǒng)計(jì)報(bào)表及列印功能
技術(shù)規(guī)格 SPECIFICATION
測(cè) 量 時(shí) 間 Test time
斷/短路 Open
ort 快速(4ms/次/64點(diǎn)),慢速(8ms/次/64點(diǎn))
導(dǎo)通電阻 Cond
快速55次/秒,中速45次/秒,慢速30次/秒
0.2s/32net(標(biāo)準(zhǔn))參考
絕緣電阻
Insulation resistance
一對(duì)其它3.6s/64net(0.01s)
二分快速0.4s/64net(0.01s)
0.01秒～60秒可選擇設(shè)定
交流高壓
AC High Voltage
一對(duì)其它9.5s/64net(0.01s)
二分快速0.9s/64net(0.01s)
0.01秒～60秒可選擇設(shè)定
瞬間/高速短斷路
INT Time 0秒～99秒 設(shè)0秒表示無(wú)限時(shí)間
規(guī) 格 說(shuō) 明 Specifications
測(cè)試掃描模式
Scan Mode 自動(dòng)/手動(dòng)/連續(xù)/外部掃描可切換
顯示/聲警裝置
Waming device Pass/Fail LED紅綠指示燈/畫面顯示/聲警320*240LCD液晶顯示器，藍(lán)/白底可切換
存儲(chǔ)裝置 內(nèi)建512KB SRAM,可擴(kuò)充1024KB
尺寸 Size
重量 Weight (W×D×H)425×190×350mm
約14kg(不含配件)
測(cè) 試 參 數(shù) Test parameters
項(xiàng) 目Project 符號(hào)Symbol 測(cè)試范圍Test range
斷/短路 O/S 1KΩ~100KΩ
導(dǎo)通電阻測(cè)試 COND 1mΩ~50Ω
電阻量測(cè) R 0.1Ω~10MΩ
電容量測(cè) C 10pF~1000μF
二極管量測(cè) D 0.0V~7.0V
絕緣阻抗 I.S 0.1MΩ~1000MΩ
直流漏電流 IL 1μA~1000μA
高壓漏電流 IL 0.01mA~5mA
瞬間導(dǎo)通阻抗 INT.COND 1mΩ~50Ω
快速瞬斷 INT.OPEN 0.4ms
瞬間短斷路 INT.O/S 2ms/64pin靈敏度
選 購(gòu) 指 南 Selection Guide
產(chǎn)品型號(hào)
Product Type 量測(cè)點(diǎn)數(shù)
Test Points 量測(cè)電壓
Test Voltage
LT-6810N 64P DC:5~1000VDC
LT-6810N2 128P DC:5~1000VDC
LT-6810NA 64P DC:5~1000V,AC:100~700V
LT-6810NA2 128P DC:5~1000V,AC:100~700V
LT-6810FA 64P DC:5~1500V,AC:100~1000V
LT-6810FA2 128P DC:5~1500V,AC:100~1000V
線材的導(dǎo)通和電阻有很大的關(guān)系，但是很多人都不知道影響線材電阻的因素，應(yīng)用線材測(cè)試機(jī)可以很方便的測(cè)試出線材的電阻是多大，大大的方便了工廠測(cè)驗(yàn)相干線材。
電氣設(shè)備上的絕緣電阻是指電氣絕緣材料上所施加的直流電壓U和通過(guò)它總的電導(dǎo)電流的比值.R=U/I。
溫度對(duì)絕緣電阻的影響：溫度上升許多絕緣材料的絕緣電阻都會(huì)下降，因?yàn)闇囟壬呤菇^緣材料原子.分子的運(yùn)動(dòng)加劇，原先的分子結(jié)構(gòu)變得松懈，帶電的離子在電場(chǎng)的作用下產(chǎn)生移動(dòng)而傳遞電子，于是絕緣材料絕緣能力下降。
線材測(cè)試機(jī)的測(cè)試時(shí)間對(duì)絕緣電阻測(cè)試的影響：反復(fù)測(cè)量時(shí)因?yàn)闅堄嗟碾姾傻淖饔么嬖冢狗磸?fù)測(cè)量所得到的充電電流和接收電流比前一次小造成絕緣電阻假增景象。因此每一次絕緣電阻測(cè)試后應(yīng)將被測(cè)品充分放電，使放電時(shí)間大于充電時(shí)間，以利于殘余電荷的放盡。
我司測(cè)試導(dǎo)通電阻精度最高的測(cè)試機(jī)為L(zhǎng)T-6810系列
LT-6810系列精密線材綜合測(cè)試儀
v 系統(tǒng)提供先進(jìn)的外四線量測(cè)法，導(dǎo)通電阻最小可測(cè)1mΩ
v 可作線材單邊、標(biāo)準(zhǔn)、多段和點(diǎn)測(cè)功能測(cè)試
v 導(dǎo)通電阻可單獨(dú)分組設(shè)定，單邊可點(diǎn)測(cè)導(dǎo)通電阻
v 單邊靈敏度可對(duì)單根線分別設(shè)定，可測(cè)中間斷線
v 電容最大可測(cè)1000μF，可測(cè)電容量及電容正負(fù)極
v 短路、開路不良分邊準(zhǔn)確無(wú)誤
v 系統(tǒng)整體測(cè)試速度較傳統(tǒng)同類產(chǎn)品提升一倍
v 提供USB及RS232接口,并可與PC聯(lián)機(jī)操作
v 絕緣不受潮濕空氣影響
v 系統(tǒng)提供統(tǒng)計(jì)報(bào)表及列印功能
技術(shù)規(guī)格 SPECIFICATION
測(cè) 量 時(shí) 間 Test time
斷/短路 Open
ort 快速(4ms/次/64點(diǎn)),慢速(8ms/次/64點(diǎn)) 導(dǎo)通電阻 Cond
快速55次/秒,中速45次/秒,慢速30次/秒
0.2s/32net(標(biāo)準(zhǔn))參考
絕緣電阻
Insulation resistance
一對(duì)其它3.6s/64net(0.01s)
二分快速0.4s/64net(0.01s)
0.01秒～60秒可選擇設(shè)定
交流高壓
AC High Voltage
一對(duì)其它9.5s/64net(0.01s)
二分快速0.9s/64net(0.01s)
0.01秒～60秒可選擇設(shè)定
瞬間/高速短斷路
INT Time 0秒～99秒 設(shè)0秒表示無(wú)限時(shí)間
規(guī) 格 說(shuō) 明 Specifications
測(cè)試掃描模式
Scan Mode 自動(dòng)/手動(dòng)/連續(xù)/外部掃描可切換
顯示/聲警裝置
Waming device Pass/Fail LED紅綠指示燈/畫面顯示/聲警320*240LCD液晶顯示器，藍(lán)/白底可切換
存儲(chǔ)裝置 內(nèi)建512KB SRAM,可擴(kuò)充1024KB
尺寸 Size
重量 Weight (W×D×H)425×190×350mm
約14kg(不含配件)
測(cè) 試 參 數(shù) Test parameters
項(xiàng) 目Project 符號(hào)Symbol 測(cè)試范圍Test range
斷/短路 O/S 1KΩ~100KΩ
導(dǎo)通電阻測(cè)試 COND 1mΩ~50Ω
電阻量測(cè) R 0.1Ω~10MΩ
電容量測(cè) C 10pF~1000μF
二極管量測(cè) D 0.0V~7.0V
絕緣阻抗 I.S 0.1MΩ~1000MΩ
直流漏電流 IL 1μA~1000μA
高壓漏電流 IL 0.01mA~5mA
瞬間導(dǎo)通阻抗 INT.COND 1mΩ~50Ω
快速瞬斷 INT.OPEN 0.4ms
瞬間短斷路 INT.O/S 2ms/64pin靈敏度
選 購(gòu) 指 南 Selection Guide
產(chǎn)品型號(hào)
Product Type 量測(cè)點(diǎn)數(shù)
Test Points 量測(cè)電壓
Test Voltage
LT-6810N 64P DC:5~1000VDC
LT-6810N2 128P DC:5~1000VDC
LT-6810NA 64P DC:5~1000V,AC:100~700V
LT-6810NA2 128P DC:5~1000V,AC:100~700V
LT-6810FA 64P DC:5~1500V,AC:100~1000V
LT-6810FA2 128P DC:5~1500V,AC:100~1000V