電容測(cè)試儀0.05%測(cè)試精度,測(cè)量速度快(30次/秒)
電容測(cè)試儀25Ω,50Ω,100Ω,10/100Ω輸出阻抗
電容測(cè)試儀與國(guó)際品牌廠家LCR電橋數(shù)據(jù)可比性高(Agilent,WK)
電容測(cè)試儀測(cè)試可檢測(cè)電壓電流,校正信息
電容測(cè)試儀在測(cè)試頁(yè)面可快速開(kāi)路,短路清零功能,拋棄繁瑣操作
電容測(cè)試儀合格與不合格LED燈指示,不同聲音提示,不同顏色提示
電容測(cè)試儀簡(jiǎn)單易懂SCPI通訊測(cè)試,可快速與設(shè)備組建測(cè)試系統(tǒng)
電容測(cè)試儀測(cè)試顯示放大顯示功能,使讀數(shù)更加清晰,直觀
電容測(cè)試儀支持U盤升級(jí),可快速將測(cè)試結(jié)果,條件存到U盤
電容測(cè)試儀測(cè)試條件保存,儀器內(nèi)部50,U盤500組測(cè)試文件
電容測(cè)試儀簡(jiǎn)體中文,英文操作語(yǔ)言,有不同顯示風(fēng)格選擇
電容測(cè)試儀鍵盤鎖定功能,關(guān)機(jī)自動(dòng)保存測(cè)試條件,下次無(wú)需重設(shè)定
電容測(cè)試儀靈活的接口功能,按需求定義實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)記錄,保存,處理
電容測(cè)試儀豐富的接口供選擇,RS232,UsbTMC,UsbCDC,Handler,GPIB
電容測(cè)試儀內(nèi)部可以選擇上下沿進(jìn)行觸發(fā)
儀器后面板有BNC觸發(fā),快速實(shí)現(xiàn)外部腳踏開(kāi)關(guān)連接
后面板帶可選BNC測(cè)試端,便于自動(dòng)分選機(jī)使用
可定制連續(xù)電平
電容測(cè)試儀儀器開(kāi)路校正
電容測(cè)試儀儀器開(kāi)路校正功能能消除與被測(cè)元件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納(G,B)造成的誤差。開(kāi)路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻開(kāi)路校正和對(duì)所設(shè)定的頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻開(kāi)路校正。
特別注意:當(dāng)進(jìn)行開(kāi)路校正時(shí)應(yīng)將測(cè)試夾具連接到電容測(cè)試儀儀器測(cè)試端。夾具開(kāi)路,不連接到任何被測(cè)元件。
按軟鍵ON,使開(kāi)路校正有效,電容測(cè)試儀儀器將在以后的測(cè)試過(guò)程中進(jìn)行開(kāi)路校正計(jì)算。
按軟鍵OFF,關(guān)閉開(kāi)路校正功能。以后的測(cè)量過(guò)程中將不再進(jìn)行開(kāi)路校正的計(jì)算。
按軟鍵開(kāi)路全頻清,電容測(cè)試儀儀器將對(duì)可測(cè)試的頻率點(diǎn)的開(kāi)路導(dǎo)納(電容和電感)進(jìn)行測(cè)量。開(kāi)路全頻校正大約需要15秒的時(shí)間。在開(kāi)路全頻校正過(guò)程中,顯示軟鍵:放棄
放棄軟鍵可中止當(dāng)前的開(kāi)路校正測(cè)試操作。保留原來(lái)的開(kāi)路校正數(shù)據(jù)不變。
電容測(cè)試儀廠家,電容測(cè)試儀工廠,電容測(cè)試儀供應(yīng)商,電容測(cè)試儀定做優(yōu)選致遠(yuǎn)測(cè)試設(shè)備。